840D数控光栅尺和反向间隙补偿问题。
X轴由于操作失误导致光栅尺读数头的两个固定螺丝拉断，后报警定位误差监控。将X轴MD30200由“2”修改为“1”，并将DB31.DBX1.5置“1”，改为半闭环控制。不报警，但是用百分表检查发现方向间隙有0.15mm。
问题1：这个机床前一天X轴全部拆卸进行检修，机械都调整好了，这个反向间隙这么大，是什么原因？是和半闭环编码器反馈不准有关？
问题2：MD32450[0]和MD32450[1]有什么区别？[0]和[1]各代表什么？为什么在半闭环控制下，通过修改这两个参数进行补偿0.15mm，均都毫无效果？
问题3：这个问题应该怎么进行判断和解决？
急切求各位专家多多提供参考意见，谢谢！
问题补充：
机械检修完之后打表检测反向间隙只有0.01~0.02mm左右。现在有0.15mm的反向间隙了。
最佳答案
楼主的的问题具有一定代表性，我曾经遇到过，涉及到测量系统与位置精度的问题。需要仔细分析，注意以下几点：
1.840D 中许多参数下面有下标[n]，这表示测量系统的机床数据，[n]一般用[0]或 [1]表示，其中 [0] 表示对于第1测量系统的值，[1] 表示第2测量系统的值，譬如电机自身的编码器表示第1测量系统，而外加的编码器或者光栅尺、圆光栅表示第2测量系统。
2.反向间隙补偿值生效，前提是机床轴回零，检查一下，是否轴回过零点，
3.在全闭环的伺服控制中，光栅尺用来反馈轴运行位置，而编码器反馈的是电机速度，因此，和半闭环编码器反馈无关，
4.MD32450[0]是半闭环时的反向间隙补偿，MD32450[1]是全闭环时的反向间隙补偿，但是注意，由于在全闭环的伺服控制中，光栅尺用来反馈轴运行位置，而此时，编码器反馈的是电机速度，起作用的是光栅尺，不是编码器。
因此，在MD32450[0]输入半闭环的补偿值，显然无效了，
5.该故障按照以下方法解决：
屏蔽该轴光栅尺，改为半闭环，检查机床的精度。将坐标反向间隙值用百分表打出来，如果反向间隙值不大于0.04m，将反向间隙值补偿到轴参数 MD32450[1]，注意不是MD32450[0]，
而如果反向间隙值大于0.04mm，检查轴丝杠轴承并且调整滚珠丝杠预紧，进行消隙。消隙完成后，检验是否合格，即要保证在不大于0.04mm的范围内。
.以上调整正常后，恢复该坐标为全闭环，检查机床的故障现象消除否？如未变，建议调整坐标轴光栅尺动尺安装位置，或者擦拭光栅尺动尺镜头（有油污），正确安装完成后，再次试机，
.以上调整后，若故障现象仍未变，更换该轴光栅尺动尺，
以上说明可以助力楼主解决问题，祝楼主好运！
提问者对于答案的评价：
谢谢大家的解答！
原创文章，作者：more0621，如若转载，请注明出处：https://www.zhaoplc.com/plc204068.html
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